做和手机的结构耐久测试试验方法

的结构耐久测试试验方法

结构耐久测试

样品标准数量：11 台。

测试周期：7 天。

测试目的：各结构件寿命测试。

1.1.按键测试（Keypad Test）

测试环境：室温（20~25 C）；2台；设置成关机状态。

测试方法：导航键及其他任意键进行10万次按压按键测试。

试验标准：按键弹性及功能正常。

1.2.侧键测试（Side Key Test）

测试环境：室温（20~25 C）；1台；设置成关机状态；10万次按压。

试验标准：按键弹性及功能正常。

1.3.翻盖测试（Flip Life Test）

测试环境：室温（20~25 C）；4台；设置成开机状态；6万次开合翻盖测试。

试验标准：6万次后，外观，结构，及功能正常。

1.4.滑盖测试（Slide Life Test）

测试环境：室温（20~25 C）；4台；设置成开机状态；6万次滑盖测试。

试验标准：6万次后，外观，结构，及功能正常,滑盖不能有松动。

1.5. 重复跌落测试（Micro-dro Test）

测试环境：室温（20~25 C）；7cm高度 ,20mmPVC板；2台；开机状态；4万次。

测试标准：各项功能正常，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破碎，晃动无异响。

1.6. 充电器插拔测试（Charger Test）

测试环境：室温（20~25 C）；2台。

试验方法：将充电器接上电源，连接充电接口，等待至充电界面显示正常后，拔除充电插头。在开机不插卡状态下插拔充电3000次。

检验标准：I/O接口无损坏，焊盘无脱落，充电功能正常。无异常手感。

1.7.笔插拔测试（Stylus Test）

测试环境：室温（20~2同时5 C）；2台；开机状态；2万次。

检验标准：笔输入功能正常，插入拔出结构功能、外壳及笔均正常。

1.8.触摸屏点击试验 (Point Activation Life Test)

试验条件：触摸屏测试仪（接触垫尖端半径为3.75mm；硬度为40deg的硅树脂橡胶）

试验方法：2台；将设置为开机状态，点击同一位置250,000次，点击力度为250g；点击速度：2次/秒；

检验标准：不应出现电性能不良现象；表面不应有损伤

1.9.触摸屏划线试验 (Lineation Life Test)

试验条件：触摸屏测试仪，直径为0.8mm的塑料手写笔或随机附带的手写笔

试验方法：2台；将设置为关机状态，在同一位置划线至少100,000次，力度为250g，滑行速度：60mm/秒

检验标准：不应出现电性能不良现象；表面不应有损伤

1.10.电池/电池盖拆装测试（Battery/Battery Cover Test）

测试环境：室温（20~25 C）；2台；将电池/电池盖反复拆装2000次。

检验标准：及电池卡扣功能正常无变形，电池触片、电池连接器应无下陷、变形及磨损的现象，外观无异常。

1.11. SIM Card 拆装测试（SIM Card Test）

测试环境：室温（20~25 C）；2台；SIM卡插上取下反复1000次。

检验标准：SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常，读卡功能使用正常。

1.12. 耳机插拔测试（Headset Test）

测试环境：室温；2台；开机状态；耳机插入耳机插孔再拔出，3000次。加快安全、卫生溯源体系建设在与食品安全相干的材料中

检验标准：实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用耳机通话接收与送话无杂音（通话过程中转动耳机插头），耳机插入耳机插孔时不会松动（可以承受得住本身的重量）。

1.13.导线连接强度试验（Cable Pulling Endurance Test）

测试环境：室温（20~25 C）；

实验方法：选取靠近耳塞的一段导线，将其两端固定在实验机上，用20N 2N的力度持续拉伸6秒，循环100次。

检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂，变形。

1.14.导线折弯强度试验（Cable Bending Endurance Test）

测试环境：室温（20~25 C）；

实验方法：分别选取靠近耳塞和靠近插头的一段导线，将导线的两端固定在实验机上，做0mm~25mm折弯实验3000次。

检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂，变形。

1.15.导线摆动疲劳试验（Ca提高生产效力ble Swing Endurance Test）2.培养1批创新综合体

测试环境：室温（20~25 C）；

实验方法:分别将耳机和插头固定在实验机上，用1N的力， 以90 ~120 的角度反复摆动耳机末端3000次。

检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂。